Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/20.500.14076/13254
Registro completo de metadatos
Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorTalledo Coronado, Arturo Fernando-
dc.contributor.authorAmpuero Torres, José Luis-
dc.creatorAmpuero Torres, José Luis-
dc.date.accessioned2018-08-24T16:19:34Z-
dc.date.available2018-08-24T16:19:34Z-
dc.date.issued2018-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.14076/13254-
dc.description.abstractEn esta tesis se han obtenido películas delgadas de LAO sobre sustratos de STO mediante la técnica metal organic decomposition (MOD) a partir de disolver precursores de La (C5H7O2)3 y Al (C5H7O2)3 en ácido propiónico. Este proceso consiste en crecer películas delgadas a través de la técnica dip-coating y realizar después un tratamiento térmico. Después de obtener diferentes soluciones con diferentes razones en las concentraciones de los cationes de La y Al, se obtuvo que la razón óptima es 0,5, la cual conduce a obtener películas delgadas de LAO de una sola fase crecidas epitaxialmente sobre el sustrato de STO. Estos recubrimientos fueron analizados mediante la difracción de rayos X para obtener información de la estructura y de las fases obtenidas en los recubrimientos. Así como también se realizó la reflectometría de rayos X para estimar el espesor y la densidad. Y finalmente se analizó mediante la microscopía electrónica de transmisión para verificar si las películas delgadas crecen epitaxialmente.es
dc.description.abstractIn this thesis LaAlO3 (LAO) thin films on SrTiO3 (STO) substrates have been produced by metal organic decomposition using La(C5H7O2)3 and Al(C5H7O2)3 as precursors dissolved in propionic acid. The process consists of growing thin layers through dip coating and subsequent annealing. After testing different cationic ratios of La and Al, it was determined that an optimal ratio leads to a single LAO phase film that grows epitaxially (cube on cube) on top of the STO. This was shown by X-ray diffraction (XRD) and transmission electron microscopy (TEM) analyses. These analyses, as well as additional X-ray reflectivity analysis, also revealed that the LAO’s thickness obtained in one dip ranges from 8 nm to 16 nm. Taking advantage of the epitaxial conditions, several layers can be stacked by successive dip coatings and annealing to form an epitaxial structure.en
dc.description.uriTesises
dc.formatapplication/pdfes
dc.language.isospaes
dc.publisherUniversidad Nacional de Ingenieríaes
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/es
dc.sourceUniversidad Nacional de Ingenieríaes
dc.sourceRepositorio Institucional - UNIes
dc.subjectFísica - Experimentoses
dc.subjectDescomposición orgánica del metal (MOD)es
dc.subjectLaAIO3es
dc.titleCrecimiento de películas delgadas de LaAlO3 sobre sustratos de SrTiO3 mediante la técnica MODes
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesises
thesis.degree.nameLicenciado en Físicaes
thesis.degree.grantorUniversidad Nacional de Ingeniería. Facultad de Cienciases
thesis.degree.levelTítulo Profesionales
thesis.degree.disciplineFísicaes
thesis.degree.programLicenciaturaes
Aparece en las colecciones: Física

Ficheros en este ítem:
Fichero Descripción Tamaño Formato  
ampuero_tj.pdf3,26 MBAdobe PDFVisualizar/Abrir


Este ítem está sujeto a una licencia Creative Commons Licencia Creative Commons Creative Commons

Indexado por:
Indexado por Scholar Google LaReferencia Concytec BASE renati ROAR ALICIA RepoLatin UNI