Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/20.500.14076/13781
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dc.contributor.authorReyes, Reynaldo-
dc.contributor.authorBrito, Hermi F.-
dc.contributor.authorCremona, Marco-
dc.creatorCremona, Marco-
dc.creatorBrito, Hermi F.-
dc.creatorReyes, Reynaldo-
dc.date.accessioned2018-09-18T14:55:13Z-
dc.date.available2018-09-18T14:55:13Z-
dc.date.issued2016-12-01-
dc.identifier.citationReyes, R., Brito, H., & Cremona, M. (2016). Estudio por espectroscopia de retrodispersión de Rutherford de películas delgadas con complejos de (Sm + Eu). TECNIA, 26(2), 14. https://doi.org/10.21754/tecnia.v26i2.53es
dc.identifier.issn2309-0413-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.14076/13781-
dc.description.abstractEn este trabajo reportamos el uso de la espectroscopia de retrodispersión de Rutherford (RBS) para el análisis, búsqueda de contaminantes y medición del espesor de película delgadas de organo-lantánido [SmxEuy(TTA)3(TPPO)2] utilizadas como capas emisoras de luz en diodos orgánicos emisores de luz (OLEDs).También se hace un estudio de fotoluminiscencia de las películas de [SmxEuy(TTA)3(TPPO)2], y se encuentra que la emisión de luz de la mezcla se realiza independientemente por las moléculas [Sm(TTA)3(TPPO)2] y [Eu(TTA)3(TPPO)2], no observándose una transferencia intermolecular de energía entre dichas moléculas.es
dc.description.abstractln this work we report the use of Rutherford backscattering spectroscopy (RBS) for the analysis, search of contaminants and measurements of thickness of the organic-lanthanide [SmxEuy(TTA)3(TPPO)2] thin films used as light-emitting layer in organic light-emitting diodes (OLEDs). Also a study of photoluminescence of the films [SmxEuy(TTA)3(TPPO)2] is realized, and it is found that the emission of light of the mixture is carried out independently for the molecules [Sm(TTA)3(TPPO)2] and [EU(TTA)3(TPPO)2], not being observed a intermolecular energy transfer between these molecules.en
dc.formatapplication/pdfes
dc.language.isospaes
dc.publisherUniversidad Nacional de Ingenieríaes
dc.relation.ispartofseriesVolumen;26-
dc.relation.ispartofseriesNúmero;2-
dc.relation.urihttp://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/53es
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/es
dc.sourceUniversidad Nacional de Ingenieríaes
dc.sourceRepositorio Institucional - UNIes
dc.subjectSamarioes
dc.subjectEuropioes
dc.subjectFotoluminescenciaes
dc.subjectOLEDes
dc.titleEstudio por espectroscopia de retrodispersión de Rutherford de películas delgadas con complejos de (Sm + Eu)es
dc.titleRutherford backscattering spectroscopy study of thin films with (Sm + Eu) complexesen
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articlees
dc.identifier.journalTECNIAes
dc.description.peer-reviewRevisión por pareses
dc.identifier.doihttps://doi.org/10.21754/tecnia.v26i2.53es
dc.contributor.emailfisicaplica@gmail.comes
Aparece en las colecciones: Vol. 26 Núm. 2 (2016)

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