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Determinación experimental de índices de refracción en películas semiconductoras: CDS, TI3O5 | 230 |
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Determinación experimental de índices de refracción en películas semiconductoras: CDS, TI3O5 | 3 | 8 | 5 | 5 | 7 | 4 | 2 |
Archivos descargados
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TECNIA_Vol.11-n1-Art.10.pdf | 48 |
Países con mayores visualizaciones
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Estados Unidos | 70 |
Perú | 19 |
Suecia | 9 |
China | 6 |
Ucrania | 5 |
Reino Unido | 4 |
México | 4 |
Francia | 3 |
Alemania | 2 |
Brasil | 1 |
Ciudades con mayores visualizaciones
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Ann Arbor | 16 |
Lima | 14 |
Houston | 12 |
Wilmington | 12 |
White Plains | 7 |
Fremont | 5 |
Beijing | 4 |
Jacksonville | 4 |
Woodbridge | 3 |
Chimbote | 2 |
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