Estadísticas
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| Determinación experimental de índices de refracción en películas semiconductoras: CDS, TI3O5 | 224 |
Total de visitas por mes
| abril 2024 | mayo 2024 | junio 2024 | julio 2024 | agosto 2024 | septiembre 2024 | octubre 2024 | |
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| Determinación experimental de índices de refracción en películas semiconductoras: CDS, TI3O5 | 4 | 3 | 8 | 5 | 5 | 7 | 0 |
Archivos descargados
| Visualizaciones | |
|---|---|
| TECNIA_Vol.11-n1-Art.10.pdf | 45 |
Países con mayores visualizaciones
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Estados Unidos | 70 |
| Perú | 19 |
| Suecia | 9 |
| China | 6 |
| Ucrania | 5 |
| Reino Unido | 4 |
| México | 4 |
| Francia | 3 |
| Alemania | 2 |
| Brasil | 1 |
Ciudades con mayores visualizaciones
| Visualizaciones | |
|---|---|
| Ann Arbor | 16 |
| Lima | 14 |
| Houston | 12 |
| Wilmington | 12 |
| White Plains | 7 |
| Fremont | 5 |
| Beijing | 4 |
| Jacksonville | 4 |
| Woodbridge | 3 |
| Chimbote | 2 |
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