Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/20.500.14076/1836
Registro completo de metadatos
Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.advisorEstrada López, Walter Francisco-
dc.contributor.authorLópez Milla, Alcides Agustín-
dc.creatorLópez Milla, Alcides Agustín-
dc.date.accessioned2016-08-19T01:14:18Z-
dc.date.available2016-08-19T01:14:18Z-
dc.date.issued1995-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.14076/1836-
dc.description.abstractEn el Capítulo 1 describimos al microscopio Electrónico como instrumento, es decir, mostramos su construcción, el funcionamiento de las partes que lo forma, su campo de acción, los diversos modos en que se puede operar y la información que se puede explotar en cada uno de ellos, se resalta en cada punto los hechos importantes para la comprensión de las teorías sobre la formación de imágenes que se desarrolla en el capítulo 2. El origen de la imagen que se obtiene en un ME, es desarrollado teóricamente para cristales perfectos; aunque la aplicación de la misma a casos reales solo se puede lograr generalizando el desarrollo a cristales con defectos. En el capítulo 3 se sigue paso a paso las instrucciones de manejo del EM PHILIPS 300 en los nodos de imagen y difracción y en el capítulo 4 cotejamos las predicciones teóricas con las imágenes reales obtenidas en forma experimental en los PHILIPS Modelos 300 y 301, en la que podemos admitir una idea clara del grado de aproximación que, en el terreno teórico se ha alcanzado con la realidad, para ello se hacen los análisis gráficos y difractométricos de muestras de NaCl, Pt, Si, Fe-Sn y Fe-O. Finalmente se concluye con algunos comentarios pertinentes, que enfatizan los puntos importantes de este trabajo y proyectan el despliegue de futuros trabajos.es
dc.description.uriTesises
dc.formatapplication/pdfes
dc.language.isospaes
dc.publisherUniversidad Nacional de Ingenieríaes
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/restrictedAccesses
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/es
dc.sourceUniversidad Nacional de Ingenieríaes
dc.sourceRepositorio Institucional - UNIes
dc.subjectÓptica electrónicaes
dc.subjectMicroscopía electrónicaes
dc.subjectDifractómetroses
dc.subjectAnálisis gráficoses
dc.titlePrincipios fisicos y aplicación de la microscopía electrónica de transmisiónes
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/bachelorThesises
thesis.degree.nameLicenciado en Físicaes
thesis.degree.grantorUniversidad Nacional de Ingeniería. Facultad de Cienciases
thesis.degree.levelTítulo Profesionales
thesis.degree.disciplineFísicaes
thesis.degree.programLicenciaturaes
Aparece en las colecciones: Física

Ficheros en este ítem:
Fichero Descripción Tamaño Formato  
lopez_ma.pdf16,4 MBAdobe PDFVisualizar/Abrir


Este ítem está sujeto a una licencia Creative Commons Licencia Creative Commons Creative Commons

Indexado por:
Indexado por Scholar Google LaReferencia Concytec BASE renati ROAR ALICIA RepoLatin UNI