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http://hdl.handle.net/20.500.14076/6125
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Campo DC | Valor | Lengua/Idioma |
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dc.contributor.advisor | Talledo Coronado, Arturo Fernando | - |
dc.contributor.author | Valdivia Mendoza, Héctor Giovanny | - |
dc.creator | Valdivia Mendoza, Héctor Giovanny | - |
dc.date.accessioned | 2017-11-21T15:28:13Z | - |
dc.date.available | 2017-11-21T15:28:13Z | - |
dc.date.issued | 2002 | - |
dc.identifier.uri | http://hdl.handle.net/20.500.14076/6125 | - |
dc.description.abstract | En este trabajo se reporta el inicio del funcionamiento del equipo de sputtering de esta facultad. El plasma se genera con una fuente de voltaje variable de 13,56 MHz (radiofrecuencia), y junto al cátodo hay un imán de forma circular para asistir al plasma. Se operó el equipo en la modalidad rf-magnetron-sputtering y con una mezcla de gases de Ar-O2 para obtener películas delgadas de pentóxido de vanadio de diferentes espesores, depositadas sobre sustratos de vidrio y vidrio recubierto con una película delgada conductora de óxido de estaño (β-SnO). Las películas de V2O5 se han depositado a temperatura ambiente obteniéndose que las muestras V2O5/SnO/vidrio son siempre cristalinas de estructura ortorrómbica y las muestras V2O5/vidrio son amorfas, posteriormente se les calentó hasta 350 °C durante 3h - 4h, de modo que las películas de V2O5 sobre vidrio cristalizaron en una estructura ortorrómbica cuando las presiones de los gases fueron P02 /PAr = 18,6 % y estructura tetragonal cuando P02 / Par = 8,51 %. A las muestras V2O5/SnO/vidrio se les insertó diferentes cantidades de litio notándose que el cambio de la banda de absorción IR de 1032 cm-1 - 1035 cm-1 hacia 990 cm-1 se debe al alargamiento del parámetro c que une las capas del V2O5. La caracterización química cualitativa se hizo con espectroscopia de emisión de electrones por absorción de radiación X (XPS); la caracterización estructural se hizo con difracción de rayos X (XRD) y con espectroscopia de absorción de radiación en el infrarrojo (IR) se estudió las vibraciones de la red. | es |
dc.description.uri | Trabajo de suficiencia profesional | es |
dc.format | application/pdf | es |
dc.language.iso | spa | es |
dc.publisher | Universidad Nacional de Ingeniería | es |
dc.rights | info:eu-repo/semantics/restrictedAccess | es |
dc.rights.uri | http://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/ | es |
dc.source | Universidad Nacional de Ingeniería | es |
dc.source | Repositorio Institucional - UNI | es |
dc.subject | Películas delgadas | es |
dc.subject | Equipo de sputtering | es |
dc.title | Fabricación y caracterización de películas delgadas para cátodos de microbaterias recargables de litio | es |
dc.type | info:eu-repo/semantics/report | es |
thesis.degree.name | Licenciado en Física | es |
thesis.degree.grantor | Universidad Nacional de Ingeniería. Facultad de Ciencias | es |
thesis.degree.level | Título Profesional | es |
thesis.degree.discipline | Física | es |
thesis.degree.program | Licenciatura | es |
Aparece en las colecciones: | Física |
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Fichero | Descripción | Tamaño | Formato | |
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