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Title: Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS
Authors: Azuero, Pedro
Castillo Ocaña, Guido Juvenal
Valera Palacios, Aníbal
Keywords: Fotocorriente espectral;Photocurrent spectroscopy
Issue Date: 1-Dec-2001
Publisher: Universidad Nacional de Ingeniería
Citation: Azuero, P., Castillo Ocaña, G., & Valera Palacios, A. (2001). Photocurrent spectroscopy applied to semiconductor thin films:CDS. TECNIA, 11(2). https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i2.517
Series/Report no.: Volumen;11
Número;2
Related URI: http://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/517
Abstract: En este trabajo se presenta el resultado de la aplicación de la técnica de fotocorriente espectral en el análisis cuantitativo de semiconductores, en el caso específico de películas de sulfuro de cadmio (CdS). Se presentan tres modalidades de medición, cuyos resultados son en sí complementarios y confirman, que los niveles de energía más relevantes en CdS, desde el punto de vista fotoeléctrico, corresponden a los valores: 2,0; 2,26; 2,38; 2,47 y 2,60 eV
In this work, we present results of spectral photocurrent measurements in the quantitative diagnostic of semiconductors, in the specific case of cadmium sulfide (CdS) thin films. We present three measurement modalities. The results are each other complementary and confirms, that the most relevant energy levels in CdS, from the photoelectric point of view, correspond to the values: 2,0; 2,26; 2,38; 2,47 and 2,60 eV
URI: http://cybertesis.uni.edu.pe/handle/uni/14345
ISSN: 2309-0413
E-mail: avalera@uni.edu.pe
Rights: info:eu-repo/semantics/openAccess
Appears in Collections:Vol. 11 Núm. 2 (2001)

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