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Title: Determinación experimental de índices de refracción en películas semiconductoras: CDS, TI3O5
Authors: Rodríguez Laura, Sandro
Miculicich Egoavil, Oscar Lennon
Oliva Chirinos, Christian Joel
Fiorentini Aguirre, Arturo
Valera Palacios, Aníbal
Keywords: Índices de refracción;Películas semiconductoras
Issue Date: 1-Jun-2001
Publisher: Universidad Nacional de Ingeniería
Citation: Rodríguez Laura, S., Miculicich Egoavil, O., Oliva Chirinos, C., Fiorentini Aguirre, A., & Valera Palacios, A. (2001). Determinación experimental de índices de refracción en películas semiconductoras: CDS, TI3O5. TECNIA, 11(1). https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i1.516
Series/Report no.: Volumen;11
Número;1
Related URI: http://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/516
Abstract: En este trabajo se presenta el resultado de mediciones del índice de refracción en películas semiconductoras de sulfuro de cadmio (CdS) y oxido de titanio (Ti3O5), realizadas por los métodos de: ángulo de reflexión Brewster, espectros de transmisión y efecto de guía de ondas óptica.
In this work, we present results of measurements of the refraction index realized with semiconductors in the form of thin films: cadmium sulfide (CdS) and titan oxide (Ti3O5) The applied method involves: the determination of the Brewster reflection angle, transmission spectra and optical wave guide effect.
URI: http://cybertesis.uni.edu.pe/handle/uni/14375
ISSN: 2309-0413
E-mail: avalera@uni.edu.pe
Rights: info:eu-repo/semantics/embargoedAccess
Appears in Collections:Vol. 11 Núm. 1 (2001)

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