Método de Rietveld para el estudio de estructuras cristalinas

Abstract

En este trabajo se describe y aplica el Método de Rietveld para el refinamiento de una estructura cristalina. El método de Rietveld consiste en un ajuste teórico del patrón de difracción aplicando un modelo que incluye factores estructurales y experimentales. Los parámetros referenciales dados al inicio del proceso se modifican ajustando el perfil completo del patrón de difracción de nuestra muestra en polvo.

This work describes and applies the Rietveld Method for the refinement of a crystalline structure. The Rietveld Method consists on a theoretical adjustment of the diffraction pattern using a model including both structural and experimental factors. The initial reference values of the parameters are modified adjusting the complete profile of the powder diffraction pattern of our sample.