Diseño y construcción de un sistema de prueba controlado por microcomputadora para los circuitos integrados T.T.L. 7400 - 7428

Abstract

Este trabajo describe el diseño y la implementación de un probador de integrados T.T.L. (7400-7428), usando el microcomputador SD-Systems Z-80. Para la prueba de un integrado se usan patrones de prueba, los cuales están almacenados en el grupo de prueba del integrado (programa del probador) Cada grupo de prueba se almacena em memoria RAM (memoria de lectura y escritura) y se identifica por medio del código del integrado que está escrito al inicio del grupo. Las respuestas del integrado son-comparadas con las después. tas correctas a los patrones de prueba que han sido aplica dos al integrado, estas respuestas también son almacenadas en el grupo de prueba del integrado, de acuerdo con el resultado de la comparación de ambas respuestas, se displayara un mensaje: Good IC cuando el integrado está en buen estado o un mensaje: bAd IC cuando el integrado está defectuoso. Tanto el circuito de interfase entre el microcomputador y el integrado T.T.L. bajo prueba, así como el programa del probador son descritos en el presente trabajo.