1. Repositorio Institucional - UNI
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  3. TECNIA
  4. Vol. 11 Núm. 1 (2001)
Por favor, use este identificador para citar o enlazar este ítem: http://hdl.handle.net/20.500.14076/14375
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Campo DC Valor Lengua/Idioma
dc.contributor.authorRodríguez Laura, Sandro-
dc.contributor.authorMiculicich Egoavil, Oscar Lennon-
dc.contributor.authorOliva Chirinos, Christian Joel-
dc.contributor.authorFiorentini Aguirre, Arturo-
dc.contributor.authorValera Palacios, Aníbal-
dc.creatorOliva Chirinos, Christian Joel-
dc.creatorMiculicich Egoavil, Oscar Lennon-
dc.date.accessioned2018-10-06T00:34:38Z-
dc.date.available2018-10-06T00:34:38Z-
dc.date.issued2001-06-01-
dc.identifier.citationRodríguez Laura, S., Miculicich Egoavil, O., Oliva Chirinos, C., Fiorentini Aguirre, A., & Valera Palacios, A. (2001). Determinación experimental de índices de refracción en películas semiconductoras: CDS, TI3O5. TECNIA, 11(1). https://doi.org/10.21754/tecnia.v11i1.516es
dc.identifier.issn2309-0413-
dc.identifier.urihttp://hdl.handle.net/20.500.14076/14375-
dc.description.abstractEn este trabajo se presenta el resultado de mediciones del índice de refracción en películas semiconductoras de sulfuro de cadmio (CdS) y oxido de titanio (Ti3O5), realizadas por los métodos de: ángulo de reflexión Brewster, espectros de transmisión y efecto de guía de ondas óptica.es
dc.description.abstractIn this work, we present results of measurements of the refraction index realized with semiconductors in the form of thin films: cadmium sulfide (CdS) and titan oxide (Ti3O5) The applied method involves: the determination of the Brewster reflection angle, transmission spectra and optical wave guide effect.en
dc.formatapplication/pdfes
dc.language.isospaes
dc.publisherUniversidad Nacional de Ingenieríaes
dc.relation.ispartofseriesVolumen;11-
dc.relation.ispartofseriesNúmero;1-
dc.relation.urihttp://revistas.uni.edu.pe/index.php/tecnia/article/view/516es
dc.rightsinfo:eu-repo/semantics/openAccesses
dc.rights.urihttp://creativecommons.org/licenses/by-nc-nd/4.0/es
dc.sourceUniversidad Nacional de Ingenieríaes
dc.sourceRepositorio Institucional - UNIes
dc.subjectÍndices de refracciónes
dc.subjectPelículas semiconductorases
dc.titleDeterminación experimental de índices de refracción en películas semiconductoras: CDS, TI3O5es
dc.typeinfo:eu-repo/semantics/articlees
dc.identifier.journalTECNIAes
dc.description.peer-reviewRevisión por pareses
dc.identifier.doihttps://doi.org/10.21754/tecnia.v11i1.516es
dc.contributor.emailavalera@uni.edu.pees
Aparece en las colecciones: Vol. 11 Núm. 1 (2001)

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