Please use this identifier to cite or link to this item: http://hdl.handle.net/20.500.14076/25858
Title: Control de exposición de ampliadoras fotográficas
Authors: Yep Tong, Juan Oswaldo
Keywords: Circuitos digitales;Ampliadoras fotográficas
Issue Date: 1975
Publisher: Universidad Nacional de Ingeniería
Abstract: Es un hecho cada vez más evidente el uso de circuitos digitales de pulso y de conmutación; la tendencia actual moderna de capitalizar las ventajas que ofrecen estos circuitos frente a otros hace que su aplicación en diferentes campos sea cada vez más amplia y en mayor proporción. Por este motivo el conocimiento de los fundamentos de diseño de estos circuitos es de suma importancia. El concepto básico en los circuitos digitales es el de un cambio discreto de estado. Dos estados estables son considerados: el estado de saturación y el estado de corte. El estado de saturación se caracteriza por su bajo voltaje de colector y una relativamente alta corriente de colector. El estado de corte se caracteriza por su alto voltaje de colector y una muy pequeña corriente de colector. Como veremos, las ventajas que nos ofrece la técnica digital en cuanto a precisión, resolución y facilidad de diseño son sustanciales. El presente trabajo consiste en el diseño de un circuito de aplicación práctica: un control de exposición de ampliadoras fotográficas. Para los que no tienen conocimiento de la técnica fotográfica, les diré que el negativo obtenido por la cámara fotográfica es expues­ta a través de la ampliadora sobre un papel especial y durante un cierto tiempo, el cual después de pasar por un proceso químico nos da las fotografías o ampliaciones que todos conocemos. Es precisamente ese tiempo de exposición el que nos hemos propuesto controlar automáticamente. Durante el desarrollo se mostrará íntegramente el proceso de diseño, pues los puntos tratados incluyen diagrama de bloques del circuito y sus características, criterios de diseño que se tomaron en cuenta, diseño de cada uno de los bloques del sistema, explicación detallada del funcionamiento, resultados experimentales, etc.
URI: http://hdl.handle.net/20.500.14076/25858
Rights: info:eu-repo/semantics/restrictedAccess
Appears in Collections:Ingeniería Mecánica y Electrica

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